Использование сверхвысокочастотной коаксиальной брэгговской структуры для измерения параметров диэлектриков

Authors:
  • ДУД. А. Усанов
    Д. А. Усанов
  • СНС. А. Никитов
    С. А. Никитов
  • АСА. В. Скрипаль
    А. В. Скрипаль
  • ДПД. В. Пономарев
    Д. В. Пономарев
  • ОРО. М. Рузанов
    О. М. Рузанов
  • ИТИ. О. Тимофеев
    И. О. Тимофеев
Publisher website
Google Scholar
Abstract
Предложена и реализована методика измерения комплексной диэлектрической проницаемости ряда диэлектриков с использованием СВЧ коаксиального фотонного кристалла. В основу метода измерения положено решение обратной задачи, основанное на минимизации разности экспериментальных и расчетных частотных зависимостей коэффициента пропускания и отражения на частоте дефектной моды в запрещенной зоне фотонного СВЧ-кристалла, содержащего структуру с искомыми параметрами. Установлено, что для обеспечения однозначного решения обратной задачи следует выбирать дефектную моду в запрещенной зоне, на частоте которой в области расположения измеряемой структуры наблюдается максимум стоячей волны.